正电子的捕获与湮没
（1）在无缺陷的完整晶格中，正
电子受库仑排斥作用，集中在原子
间隙位置。
（2）有空位型缺陷存在时，缺陷
成为正电子的捕获中心。
（3）湮没特征反应材料性质，包
括缺陷（尺寸、分布、密度等）、
自由体积 （ 尺 寸 、 分 布 、 密 度
等） 、化学环境等。
正电子湮没测试要求
样品要求
最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm（边长/直径＞12mm，厚度＞2mm）；一组样品要同样的2片；不同样品尽量保持在同一压力下进行压片（压片后手轻捏不松散就可以了）；
正电子测试能测啥？
正电子是研究材料微观（原子级）结构，特别适合材料微观缺陷(如位错、空位、空位团、微空洞)。能测材料的缺陷种类和缺陷浓度等。
测试流程
确认样品是否可测>报价>邮寄样品>测试、解谱等>发送测试的原始数据和解谱数据>样品回寄
联系方式
邮箱：info@yixintest.cn
电话：13910049174
案例一、正电子湮没寿命和强度
常规测试模式：测试材料的正电子湮没寿命谱，并基于结果分析薄膜的气体分子渗透系数、自由体积（尺寸、密度）演化过程，微结构转变、化学环境等。
应用例2 （正电子湮没寿命和强度）
常规测试模式：测试材料的正电子湮没寿命谱，并基于结果分析材料内部缺陷种类、尺寸、团簇大小的演化过程。
Ref. Z. Q. Chen et al. Phys. Rev. B75, 245206 (2007)
Ref. Z. Q. Chen et al. Phys. Rev. B69, 035210 (2004)
应用例3 （正电子湮没寿命分布）
测试材料正电子湮没寿命谱，并进一步解出寿命分布（需要根据材料实际情况操作）分析内部自由体积分布演化过程，并推测材料内部微结构的变化。
应用例5 （自由体积尺寸分布）
测试材料正电子湮没寿命谱，并进一步解出寿命对应自由体积尺寸分布（需要根据材料实际情况操作）分析内部微结构的变化。