正电子湮没谱仪（DPALMS）用于金属、合金、半导体材料等的测量。该装置包括两个采集模块和两个电源模块。在寿命谱模式中，时间是用采样率3GS/s采集卡来采集的，它是采集来自两BaF2闪烁体的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽测量（CDB）的模式中，二维直方图是通过符合两个锗半导体探测器的波峰值得到的。此外，该设备还可以用来测AMOC，寿命动量关联谱。